詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹
該系統(tǒng)采用單色激光準(zhǔn)直光束和線陣CCD成像技術(shù)，通過(guò)對(duì)樣品標(biāo)記特征識(shí)別與跟蹤，實(shí)現(xiàn)位移或變形量的非接觸、高速度、高精度檢測(cè)。測(cè)量數(shù)據(jù)由計(jì)算機(jī)接口進(jìn)行采集與處理，實(shí)時(shí)顯示被測(cè)試樣標(biāo)距變形。
該系統(tǒng)用于高溫（大氣、真空、惰性氣體保護(hù)環(huán)境下）力學(xué)試驗(yàn)系統(tǒng)上，可測(cè)量200℃～3000℃范圍內(nèi)的材料變形。
系統(tǒng)組成：由激光測(cè)量頭、主控制器、計(jì)算機(jī)等部分組成
硬件簡(jiǎn)介：激光測(cè)量頭主要由線形激光發(fā)射系統(tǒng)和線陣CCD接收系統(tǒng)兩部分；主控制器主要由CCD驅(qū)動(dòng)單元、計(jì)算控制單元、顯示與輸入管理單元、接口單元等組成。根據(jù)測(cè)量目標(biāo)溫度范圍不同，需要配套窄帶濾光系統(tǒng)，消除測(cè)量對(duì)象產(chǎn)生雜光對(duì)測(cè)量系統(tǒng)影響。
軟件簡(jiǎn)介：采用VC++或LabVIEW編程軟件設(shè)計(jì)完成計(jì)算機(jī)控制與數(shù)據(jù)處理軟件。主要進(jìn)行變形數(shù)據(jù)采集、處理、結(jié)果與曲線顯示、數(shù)據(jù)存貯及輸出表格等。（顯示內(nèi)容可根據(jù)用戶需要設(shè)計(jì)）
主要技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍：≤50mm
測(cè)量精度：±0.001mm
采樣速度：1000次/s
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